(二)碳化矽同質磊晶生長技術
ST申請一種在襯底上同質磊晶生長具不同摻雜水平的碳化矽磊晶層,並在該等碳化矽磊晶層上形成氮鈍化碳化矽層(nitrogen-passivated silicon dioxide layer)的半導體器件結構專利[4]。該結構如圖5所示,具有在襯底(4)上形成第一磊晶生長的碳化矽緩衝層(5),在該緩衝層(5)上方形成第二磊晶生長碳化矽層(1),並在該第二磊晶生長的碳化矽層(1)上形成氮鈍化二氧化矽層(2)。其中,該氮鈍化二氧化矽層(2)的氮濃度大於第一和第二磊晶生長的碳化矽層的氮摻雜濃度,從而使該第二磊晶生長的碳化矽層(1)和該氮鈍化二氧化矽層(2)之間的界面品質提升、具有低陷阱密度(low trap density),提高了半導體器件的電氣性能。該專利之後也被住友電工(Sumitomo Electric Industries)和格羅方德(GlobalFoundries, Inc.)等國際半導體巨頭所引用。
圖5. 碳化矽晶圓的剖面圖
圖片來源:美國專利US8183573B2
(三)控制晶片下彎及厚度
通常矽基碳化矽(SiC on Si)之化合物半導體異質磊晶結構製程是要將碳化矽層磊晶成長在矽晶圓基板上,但晶格不匹配問題易產生翹曲(warping)為製程上的困難之一,例如產生晶片下彎(bow),且用於功率應用所需的晶片直徑愈大,下彎問題愈嚴重。為減少大直徑晶片下彎的問題,ST申請一種用於製造碳化矽功率半導體晶片的方法專利[5],包括:提供單晶矽晶片(102);在矽晶片(102)上磊晶生長單晶碳化矽層(108);以及在該單晶碳化矽層(108)上磊晶生長單晶矽層(110),從而該單晶碳化矽層(108)及該單晶矽層(110)具有小於50μm的下彎。再者,為使其碳化矽晶片厚度能夠經受相對高的電壓,單晶碳化矽膜(106)係充當用於生長單晶碳化矽層(108)的籽晶,所得單晶碳化矽層(108)的厚度取決於晶片在反應室內暴露於矽前體和碳前體的時間量,從而適用能夠經受相對高的電壓的厚度,例如該單晶碳化矽層(108)非常適合在功率應用中使用的厚度範圍可以從2μm至6μm。此有效控制晶片下彎程度的專利後續也被國際大廠Honeywell International Inc.所引用。
電氣化正在推動新能源汽車產品需求強勁成長,碳化矽有助提升車輛性能、延長續航里程、加快車輛充電速度,同時是高於600V高壓應用系統的最佳選擇 (例如純電動汽車的驅動馬達逆變器),使得碳化矽在電動汽車市場的應用正在上升。作為第一家為電動車的主逆變器提供碳化矽 MOSFET的公司,ST顯示出了要在汽車市場保持領先地位的雄心,目標是在2025年營收過30億美元。關鍵在於碳化矽晶圓的供應是否安全無虞,ST透過Norstel AB 100%完整的股權收購舉動,就是在向它的汽車客戶們展示自己對碳化矽供應鏈掌控的能力。
截至2021年6月16日止,ROHM集團在碳化矽半導體材料方面的專利組合,經篩選與碳化矽襯底及其磊晶技藝相關的專利共40案(Count by INPADOC family),合計132件專利。
US6030661A, ABB Research Ltd. & Okmetic Ltd., Device and a method for epitaxially growing objects by CVD, patent issued on 2000 February 29.
US8183573B2, STMicroelectronics, Process for forming an interface between silicon carbide and silicon oxide with low density of states, patent issued on 2012 May 22.
US9576793B2, STMicroelectronics, Semiconductor wafer and method for manufacturing the same, patent issued on 2017 February 21.